Tabella di prova di risoluzione della macchina fotografica del microscopio ottico, piastra di calibrazione 2D ad alta precisione ±0.5um, trasmissione del 90%, per elettronica, scienza e riparazione

- Piastra di calibrazione ad alta precisione facendo uso della fotolitografia a scrittura diretta per l'elaborazione del modello su scala nanometrica, soddisfare le richieste di fabbricazione ad alta densità di micro/nanostrutture.
- La precisione ±5um con controllo rigoroso del processo assicura che ogni piastra soddisfi le specifiche, affidabile per la ricerca scientifica e la prova industriale.
- La trasmissione della luce fino al 90% migliora la chiarezza e il contrasto delle immagini, migliorando la precisione di misurazione e la stabilità nei sistemi ottici.
- L'elevata planarità grazie alla cromatura uniforme riduce le deviazioni geometriche superficiali, migliorando la precisione di calibrazione e la stabilità per fotocamere e sensori.
- Ideale per test di risoluzione, calibrazione e controllo di qualità di dispositivi ottici (fotocamere, microscopi, telescopi) e valutazione delle prestazioni di sensori di immagine e film.